Semiconductor Device and Failure Analysis- 9780471492405

: Este libro detalla la técnica PEM y su aplicación al análisis de dispositivos semiconductores. Ilustra la aplicación de la técnica PEM en varias áreas de la confiabilidad de los dispositivos, en particular la confiabilidad de portadores calientes, óxidos y ESD. Presenta los principios de diseño y calibración para un sistema de microscopio de emisión espectroscópica junto con la cobertura de los tres modos de operación principales: frontal, posterior y PEM espectroscópica. Proporciona un análisis de la emisión de luz en semiconductores bajo portadores calientes y estrés de impulso de alto campo en transistores MOS y emisión de fotones de capacitores MOS polarizados. EAN: 9780471492405 Tipo: Libros Categoría: Tecnología|Ciencias Título: Semiconductor Device and Failure Analysis Autor: Wai Kin Chim Editorial: Wiley Idioma: en Páginas: 288 Formato: tapa dura